

紅外測量
INTRODUCTION OF INFRARED METROLOGY
天準半導體紅外測量系統(tǒng)在全球處于頭部地位。系統(tǒng)將高性能紅外相機與設計優(yōu)化的紅外光學結合,提供具備出色分辨率和對比度的圖像,實現(xiàn)基板的頂部、底部和內部結構的有效測量。
主要特點
設計優(yōu)化的整套紅外光學系統(tǒng),紅外波長最高支持1500nm
支持定制適用于不同產品的自動化搬運方案
可見光和紅外光組合,反射光和透射光組合
SECS/GEM

主要特點
支持定制適用于不同產品的自動化搬運方案
可見光和紅外光組合,反射光和透射光組合
SECS/GEM
長期維護成本低,穩(wěn)定可靠

主要特點
全自動測量
可見光和紅外光組合,反射光和透射光組合
SECS/GEM
長期維護成本低,穩(wěn)定可靠
